华衡科器 C-SWIFT 电子背散射衍射测试模块
C-Swift 能够以每秒超过 2000 个标定花样的速度，进行高质 量的 EBSD 分析，同时受益于光纤提供的高灵敏度，是任何常规材料表征任务的理想探测器。
- 622 x 512 分辨率 EBSD 花样，同时速度> 250 pps， 束流低至 300 pA⸺非常适合表征更具挑战性的材料；
- 保证最大分析速度超过 2000 pps，仅使用 8 nA 束流 （在钢、Ni上）；
- 156 x 128 像素 EBSD 花样分辨率，最高速度下提供高 质量花样细节，实现可靠的相分离和出色的取向精度。
